Измерение сверхбыстрых динамик насыщения перекрестного усиления полупроводникового оптического усилителя, использующее метод пробной двухцветной накачки
Представлены результаты измерения динамик усиления полупроводникового оптического усилителя на квантово-размерных структурах с широкой полосой усиления. Для измерений применялся метод пробной двухцветной накачки использующий оптические импульсы с длительностью на порядок выше 100 фс. Короткие оптические импульсы генерировались путем отбора компонентов с узким спектром из сжатых оптических импульсов непрерывного спектра с помощью оптических фильтров. Приведена структурная схема эксперим. установки для измерения.