Изготовление и исследование микроструктурированных оптических волокон с эллиптическими отверстиями
Описан процесс изготовления микроструктурированных оптических волокон с однородно ориентированными эллиптическими отверстиями. Высокая степень эллиптичности отверстий достигалась простым способом, который основан на деформации отверстий в процессе вытягивания волокна. В широком диапазоне длин волн определены численные характеристики формы и двулучепреломления. Результаты измерений хорошо согласуются с данными численного моделирования. Двулучепреломление волокон на 850 нм длине волны составило >1,0*10{-4}. Исследованы применения изготовленных волокон.